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Fondata nel 2002, NewBue è leader locale nella distribuzione di componenti elettronici ed è oggi riconosciuta come una delle aziende più rispettate e innovative nel mercato locale. Con sede ad Hong Kong, NewBue si è guadagnata un'impressionante reputazione per la fornitura di un servizio eccezionale e lo sviluppo di soluzioni efficienti e complete per la catena di approvvigionamento globale.
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Sistema di misura telecentrico per ispezioni in linea ad alta velocità
KEYENCE ha ampliato la sua serie TM-X5000 con una nuova testa del sensore ad ampio campo che offre un campo visivo di 120 mm, mirata all'ispezione dimensionale in linea ad alta velocità su componenti più grandi.
Le caratteristiche principali sono:
Doppio sistema ottico telecentrico con telecentricità 0,0001° (tipico)
Opzione campo visivo ultra ampio da 120 mm
Esposizione minima di 25 μs;cicli di campionamento fino a 3 ms
Ripetibilità fino a ±0,03 μm;precisione di posizione fino a ±0,2 μm
Fino a 100 strumenti di misurazione simultanei con rilevamento dei difetti in linea
L'ultima aggiunta aumenta l'area di misurazione massima da 65 mm a 120 mm mantenendo la ripetibilità inferiore al micron.Progettato per l'ispezione di diametro esterno, spazi vuoti, larghezza e profilo, il sistema combina la doppia ottica telecentrica con l'analisi basata sulla silhouette per fornire misurazioni stabili indipendentemente dal tipo di materiale, compresi target trasparenti e riflettenti.
Al centro della piattaforma c'è un doppio sistema ottico telecentrico con lenti sia nel trasmettitore che nel ricevitore.Utilizzando un'illuminazione LED verde collimata e un sensore CMOS ad alta risoluzione, il sistema cattura sagome dai contorni netti anche quando i soggetti si spostano all'interno del campo visivo.La telecentricità di 0,0001° (tipica) aiuta a ridurre al minimo la variazione delle dimensioni dovuta al disallineamento.
Tempi di esposizione da soli 25 μs fino a 40 volte più veloci rispetto ai modelli convenzionali consentono misurazioni senza sfocature di parti in rapido movimento o rotanti.Il sistema supporta cicli di campionamento rapidi fino a 3 ms, consentendo una vera ispezione in linea senza rallentare le linee di produzione.
La precisione della posizione di misurazione è specificata fino a ±0,2 μm in aree ad alta precisione, con ripetibilità fino a ±0,03 μm a seconda della testa selezionata.L'ottica priva di distorsioni e l'elaborazione dei sub-pixel dividono ciascun pixel in più di 100 sub-pixel per mantenere la precisione nell'intero campo visivo, riducendo la variazione di rilevamento dei bordi.
Il controller supporta fino a due teste sensore e fino a 100 strumenti di misura per testa, comprese le funzioni GD&T, passo, runout e confronto principale.Il rilevamento integrato delle anomalie consente la misurazione dimensionale e il rilevamento simultanei di bave, schegge o particelle estranee.Con testine con grado di protezione IP64, unità fieldbus opzionali tra cui EtherNet/IP, PROFINET ed EtherCAT e funzionalità di importazione CAD per la creazione rapida di programmi, il sistema si posiziona come una piattaforma all-in-one per ambienti automobilistici, elettronici, medicali e di produzione di precisione.